Scanning probe microscopies : 20-22 January 1992, Los Angeles, California /
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| Autor Corporativo: | |
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| Outros Autores: | |
| Formato: | Livro |
| Idioma: | English |
| Publicado em: |
Bellingham, Wash. :
SPIE--the Society of Photo-optical Instrumentation Engineers,
c1992.
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| coleção: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1639. |
| Assuntos: |
CARM 1 Store
| Cópia 1 | Disponível Localização |
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