Scanning probe microscopies : 20-22 January 1992, Los Angeles, California /
Kaydedildi:
| Müşterek Yazar: | |
|---|---|
| Diğer Yazarlar: | |
| Materyal Türü: | Kitap |
| Dil: | English |
| Baskı/Yayın Bilgisi: |
Bellingham, Wash. :
SPIE--the Society of Photo-optical Instrumentation Engineers,
c1992.
|
| Seri Bilgileri: | Proceedings of SPIE--the International Society for Optical Engineering ;
v. 1639. |
| Konular: |
CARM 1 Store
| Kopya Bilgisi 1 | Kütüphanede Rezerve |
|---|