Properties of amorphous silicon.

Gardado en:
Detalles Bibliográficos
Autor Corporativo: INSPEC (Information service)
Formato: Libro
Idioma:English
Publicado: London ; New York : INSPEC, the Institution of Electrical Engineers, c1989.
Edición:2nd ed.
Series:EMIS datareviews series ; no. 1
Subjects:

CARM 1 Store

Detalle de Existencias desde CARM 1 Store
Número de Clasificación: A1:AO02F0 F02127
Copia 1 Dispoñible  Facer reserva