Properties of amorphous silicon.
Сохранить в:
| Соавтор: | |
|---|---|
| Формат: | |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
London ; New York :
INSPEC, the Institution of Electrical Engineers,
c1989.
|
| Редактирование: | 2nd ed. |
| Серии: | EMIS datareviews series ;
no. 1 |
| Предметы: |
CARM 1 Store
| Шифр: |
A1:AO02F0 F02127 |
|---|---|
| Копировать 1 | Доступно Поместить задолженность |